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NTTと北海道大学は2月27日、宇宙放射線の「陽子」と大気中の「中性子」が半導体に引き起こす誤動作（ソフトエラー）の発生率が、宇宙空間で80%以上を占める20メガ電子ボルト（MeV）以上の高エネルギー帯において同等であることを世界で初めて実証したと発表した。この発見により、宇宙環境における評価では、従来は陽子と中性子それぞれで必要だった照射試験を、中性子照射試験1回で両方評価できるようになり、宇宙機器開発のコスト削減と期間短縮を実現するという。